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10月21日至23日，由中國計(jì)量測試學(xué)會、全國顯示產(chǎn)業(yè)計(jì)量測試聯(lián)盟聯(lián)合主辦的“第四屆國際顯示產(chǎn)業(yè)計(jì)量測試高峰論壇暨中國計(jì)量測試學(xué)會2019年全國顯示產(chǎn)業(yè)計(jì)量測試聯(lián)盟”順利在京召開。來自國內(nèi)外顯示相關(guān)的計(jì)量技術(shù)機(jī)構(gòu)、高校、科研院所及生產(chǎn)企業(yè)、知名儀器設(shè)備廠家的近200位代表參加了此次高峰論壇。
本次論壇以“顯乎其微，示乎其大”為主題，圍繞顯示企業(yè)創(chuàng)新與轉(zhuǎn)型、產(chǎn)學(xué)研用深度融合和顯示產(chǎn)業(yè)前瞻技術(shù)和未來發(fā)展趨勢展開百家爭鳴。譚久彬院士做了“新一代國家測量體系與制造質(zhì)量提升”的大會特邀報(bào)告；近三十位來自國內(nèi)外的顯示專家學(xué)者和產(chǎn)業(yè)代表就顯示標(biāo)準(zhǔn)、新型顯示器件領(lǐng)域關(guān)鍵參數(shù)測試方法、顯示與視覺、醫(yī)療健康和芯片等交叉融合等分別做了主題報(bào)告。同時(shí)各專家學(xué)者就Mura算法與DeMura等應(yīng)用進(jìn)行了專題高峰圓桌對話，深入交流和探討了Mura算法與Demura技術(shù)發(fā)展。論壇還發(fā)布了“手機(jī)、顯示屏關(guān)鍵參數(shù)測試評價(jià)方案及評價(jià)結(jié)果”，對消費(fèi)者如何科學(xué)使用顯示產(chǎn)品、減小顯示屏藍(lán)光危害有重要指導(dǎo)意義。
我院光學(xué)研究所將發(fā)揮自身研發(fā)與技術(shù)優(yōu)勢，在顯示測試技術(shù)及標(biāo)準(zhǔn)上開展相關(guān)工作，落實(shí)國家創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)發(fā)展戰(zhàn)略，為推動(dòng)我國顯示產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供有力技術(shù)保障和支撐。
